模塊電(diàn)源為(wèi)什(shén)麽要(yào)測試老(lǎo)化(huà)呢(n∏‌'₹e)?

在模塊電(diàn)源原廠(chǎng)前，常有(yǒu)曆經嚴苛的(de)檢測，高(gāo)λΩ∞÷低(dī)溫試驗是(shì)在其中這(zhè)項。曆經高(gāo)©<₩低(dī)溫試驗的(de)模塊電(diàn)源，能(néng)夠确保商品的(de)品質← <≈，讓客戶在應用(yòng)全過程中降低(d♣"±ī)出現(xiàn)異常概率，增加使用(yòng)期。

 

盡管在生(shēng)産流水(shuǐ)線剛出去(qù)的(d‍≈e)模塊電(diàn)源能(néng)夠立∑Ω即應用(yòng)，可(kě)是(shì)許多(d✘•β‌uō)那(nà)時(shí)候商品到(dào)顧™&客手裡(lǐ)才發覺用(yòng)不(bù)上(shàng)。這(zhè)≥ 由于在加工(gōng)過程中僅僅簡易的(de)插電(diàn)檢測，并沒有(yǒu)φ£≤×做(zuò)長(cháng)期不(bù)一(yī)樣自(zì≥®§)然環境的(de)插電(diàn)檢測。

模塊電(diàn)源商品大(dà)部分(fēn)常見(jiàn)故障•♣‌是(shì)産生(shēng)在早期和(hé)中後期，生(shēng)産廠(chǎng)家(j≥←<iā)沒法精确操縱中後期，因此隻有(yǒu)操縱早期。在把商品交給顧客手裡(lǐ)$ 前，把難題提早抹殺在交貨前。

 

模塊電(diàn)源的(de)脆化(huà)方法關鍵有(yǒu)常暖溫帶負荷脆化(huàΩ÷)和(hé)高(gāo)溫插電(diàn)高(gāo)低(‌∏dī)溫試驗兩種，常見(jiàn)的(de)是(shì)高(gāo)溫脆化(h↔™≈∞uà)。根據高(gāo)溫脆化(huà)能(néng)>λσ↔夠使商品元器(qì)件(jiàn)的(deβ↔)缺點或品質欠佳曝露出去(qù)，進而提升了(le)商品的(de)可(kě)靠性和(←γhé)可(kě)信性。

 

模塊電(diàn)源的(de)高(gāo)∑♥溫脆化(huà)就(jiù)是(shì)指模拟仿真商品的(de)高(gāo)溫應用(y ↔←òng)自(zì)然環境，高(gāo)低(dī)溫試驗時←‌間(jiān)通(tōng)常規定為(wèi)12-48鐘(zhōng)頭。€>高(gāo)溫脆化(huà)步驟有(yǒu★&≥₩)兩種，這(zhè)種是(shì)設定在高(gāo)↔€ 溫自(zì)然環境中，插電(diàn)脆化(huà)。這(zhè)種是(shì)在高∏∑(gāo)溫自(zì)然環境下(xià)，用(yòng)更極端的(de)自↓£∞≤(zì)然環境标準沖擊性模塊電(diàn)源。

 

模塊電(diàn)源高(gāo)低(dī)溫試驗的(de)作(zuò)用 ≥≠(yòng)：

1、在電(diàn)源模塊開(kāi)展脆化(huà)時(shí)，應用(yòng)電(d±₽iàn)腦(nǎo)上(shàng)開(kāi)展監控器(qì)，能(néng)夠看(kàn)得♣'δ(de)出電(diàn)源在工(gōng)作(zuò)态度下(xià)¥→™•的(de)統計(jì)數(shù)據，體(‍α→<tǐ)現(xiàn)出了(le)電(diàn)源的(de)應用(✔ε≤‌yòng)狀況。

2、長(cháng)期的(de)脆化(huà)，可(kě)以€Ωγ監控器(qì)出模塊特性随溫度轉變而造成的(de)更改。

 

3、在脆化(huà)時(shí)，可(kě)以查驗出€¥<→電(diàn)源在加工(gōng)過程中出現的(de)難題。

4、在脆化(huà)時(shí)，模塊可(kě÷ )以長(cháng)期性平穩運作(zuò)，提升了(le)商品的(de)可(kě)信性。

 

通(tōng)常在高(gāo)低(dī)溫試驗全過程中，電(diàn)源應×☆φ用(yòng)的(de)狀況比人(rén)們通(tōng)常情況下(xià)所應用(yòng±§∞)的(de)自(zì)然環境更為(wèi)極端，規範更為(wèi)嚴苛。隻能​♠β(néng)那(nà)樣的(de)檢測能(né>←ng)夠體(tǐ)現(xiàn)出模塊電(diàn)源的(de)可(kě)信性，是♣​(shì)模塊電(diàn)源廠(chǎng)家(jiā)在保證産品質量。↔♦≤‌